|
|
|
 |
| 环境试验国家标准目录 4 |
发布时间：2007/5/9 8:35:04 被阅览数： 2230 次
|
151 GB 12085.12-1989 光学和光学仪器--环境试验方法--污染
152 GB 12085.1-1989 光学和光学仪器--环境试验方法--术语、试验范围
153 GB 12085.11-1989 光学和光学仪器--环境试验方法--长霉
154 GB 12085.10-1989 光学和光学仪器--环境试验方法--综合振动（正弦）与高温、低温
155 GB 11606.9-1989 分析仪器环境试验方法--磁场试验
156 GB 11606.8-1989 分析仪器环境试验方法--振动试验
157 GB 11606.7-1989 分析仪器环境试验方法--交变湿热试验
158 GB 11606.6-1989 分析仪器环境试验方法--恒定湿度试验
159 GB 11606.5-1989 分析仪器环境试验方法--温度变化试验
160 GB 11606.4-1989 分析仪器环境试验方法--高温试验
161 GB 11606.3-1989 分析仪器环境试验方法--低温试验
162 GB 11606.2-1989 分析仪器环境试验方法--电源频率与电压试验
163 GB 11606.17-1989 分析仪器环境试验方法--碰撞试验
164 GB 11606.16-1989 分析仪器环境试验方法--跌落试验
165 GB 11606.15-1989 分析仪器环境试验方法--高温贮存试验
166 GB 11606.14-1989 分析仪器环境试验方法--低温贮存试验
167 GB 11606.13-1989 分析仪器环境试验方法--盐雾试验
168 GB 11606.12-1989 分析仪器环境试验方法--长霉试验
169 GB 11606.1-1989 分析仪器环境试验方法--总则
170 GB 11606.11-1989 分析仪器环境试验方法--砂尘试验
171 GB 11606.10-1989 分析仪器环境试验方法--气压试验
172 GB 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则
173 GB 10982-1989 静电复印光导鼓--工作环境试验方法
174 GB 10485-1989 汽车和挂车外部照明和信号装置基本环境试验
175 GB 10263.9-1988 辐射探测器环境试验基本要求与方法--冲击试验
176 GB 10263.8-1988 辐射探测器环境试验基本要求与方法--振动试验
177 GB 10263.7-1988 辐射探测器环境试验基本要求与方法--盐雾试验
178 GB 10263.6-1988 辐射探测器环境试验基本要求与方法--辐照试验
179 GB 10263.5-1988 辐射探测器环境试验基本要求与方法--光效应试验
180 GB 10263.4-1988 辐射探测器环境试验基本要求与方法--磁场试验
181 GB 10263.3-1988 辐射探测器环境试验基本要求与方法--潮湿试验
182 GB 10263.2-1988 辐射探测器环境试验基本要求与方法--温度试验
183 GB 10263.1-1988 辐射探测器环境试验基本要求与方法--总则
184 GB 10263.10-1988 辐射探测器环境试验基本要求与方法--包装运输试验
185 GB/T 2423.22—2002 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化
186 GB/T 2424.13—2002 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 温度变化试验导则
187 GB/T 2424.13-2002 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 温度变化试验导则
188 GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验N: 温度变化
189 GB/T 2423.52-2003 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验77：结构强度与撞击
190 GB/T 2424.13-2002 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 温度变化试验导则
191 GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ｎ：温度变化
192 GB/T 2424.13-2002 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 温度变化试验导则
193 GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ｎ：温度变化
新闻来源: 浙江西埃姆西CMC测量器具有限公司
|
|
|
|
|
