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至尊型分析天平XP105DR

梅特勒-托利多,全球衡器及实验室称量技术的领导者,一直以来都以先进的科技作为发展之本,坚持不懈地丰富着“称量”的内涵并拓展了“称量”的概念。
梅特勒-托利多的超越系列至尊型分析天平是分析天平领域中的又一里程碑。革命性的创新设计带来了前所未有的称量性能并为操作者、样品称量和数据管理的安全性设立了新的标准。

XP105DR技术指标

 

最大称量值
120g
精细量程的最大称量值
31g
可读性
0.1mg
精细量程的可读性
0.01mg
重复性:正常加载(sd)
0.06mg(100g)
重复性:微量加载
0.05mg(10g)
重复性:精细量程微量加载
0.015mg(10g)
线性
0.15mg
四角误差
0.2mg(50g)
灵敏度漂移
4x10-6
 
灵敏度温度漂移(10-30°C)
1x10-6/°C
 
接口更新速率
23/s
 
天平外型尺寸(W×D×H mm)
263×486.5×322
 
秤盘尺寸(W×D mm)
76×73
 

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